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AMC在线监测
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产品: 浏览次数:15AMC在线监测 
品牌: AMC在线监测
单价: 面议
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-02-22 13:24
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详细信息
猎户座3100S  
AMC空气分子污染物监测系统  
一、AMC空气分子污染物监测系统3100S产品介绍:  
1、实践证明深紫外光刻工艺深受多种类微量污染物的影响,对很多微量污染物极为敏感,比如或者酸性气体都会给半导体生产带来较大的危害,尽管随着深紫外耐腐蚀材料技术的发展,已经减少了长时间持续实时监测,而实际上空气分子污染(AMC)的实时测量对产品质量的好坏至关重要。  
2、猎户座3100S系列空气分子污染物监测系统基于CEAS(腔增强吸收光谱)技术连续分析仪器,将增加半导体器件阻抗一致性、保证更长的过滤器寿命、减少生产过程的停工时间。  
3、ETGHMI(人机交互界面)软件可以实时观察、实时测量、实时操作对不同空间不同位置的NH3、HCL、HF进行分析,软件专门针对半导体行业开发,对于深紫外光刻工艺过程中监测与控制空气分子污染(AMC)提供有力的支持,软件集成了多点采样(MS)控制功能,具有实时显示数据曲线、报警、存储、趋势、历史曲线、分析等功能。  
AMC空气分子污染物监测系统  
一、AMC空气分子污染物监测系统3100S产品介绍:  
1、实践证明深紫外光刻工艺深受多种类微量污染物的影响,对很多微量污染物极为敏感,比如或者酸性气体都会给半导体生产带来较大的危害,尽管随着深紫外耐腐蚀材料技术的发展,已经减少了长时间持续实时监测,而实际上空气分子污染(AMC)的实时测量对产品质量的好坏至关重要。  
2、猎户座3100S系列空气分子污染物监测系统基于CEAS(腔增强吸收光谱)技术连续分析仪器,将增加半导体器件阻抗一致性、保证更长的过滤器寿命、减少生产过程的停工时间。  
3、ETGHMI(人机交互界面)软件可以实时观察、实时测量、实时操作对不同空间不同位置的NH3、HCL、HF进行分析,软件专门针对半导体行业开发,对于深紫外光刻工艺过程中监测与控制空气分子污染(AMC)提供有力的支持,软件集成了多点采样(MS)控制功能,具有实时显示数据曲线、报警、存储、趋势、历史曲线、分析等功能。  
本产品信息由北京杜克泰克科技有限公司整理发布,更多关于AMC在线监测的信息请关注: 
https://www.chem17.com/st307321/erlist_2101588.html 
https://www.chem17.com/st307321/erlist_2204526.html 

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